台湾Chroma　Model 19501-k 局部放电测试仪

Chroma Model 19501-k 局部放电测试仪，Chroma 19501-K 局部放电测试仪单机内置交流耐压测试（Hipot Test）与局部放电（Partial Discharge, PD）检测功能，可提供 0.1kV~10kV 交流电压输出，漏电流测量范围为 0.01µA~300µA。现在热卖中，如需购买，可通过ai1718.com的客服热线联系我们！

Model 19501-k 局部放电测试仪介绍

Chroma 19501-K 局部放电测试仪单机内置交流耐压测试（Hipot Test）与局部放电（Partial Discharge, PD）检测功能，可提供 0.1kV~10kV 交流电压输出，漏电流测量范围为 0.01µA~300µA，局部放电检测范围为 1pC~2000pC，专为高压半导体元件与高绝缘材料的测试应用而设计开发。
该产品设计符合 IEC60270-1 标准，针对高压试验技术中对局部放电测试的要求，采用窄频滤波器（Narrowband）测量技术进行局部放电量检测，并将测量结果以直观的数值（pC）显示在屏幕上，方便用户清晰了解待测物的测试判定结果。
在产品设计上，除符合 IEC60270-1 标准外，还满足光耦合器 IEC60747-5-5 及 VDE0884 标准要求，仪器内部内置 IEC60747-5-5 标准规定的测试方法，能满足光耦合器产品生产测试需求，并为用户提供便捷的操作界面。
在生产线上执行高压测试时，若待测物未能正确、良好地连接测试线，将导致测试结果失败，甚至存在漏测风险。因此，测试前确保待测物与测试线的良好连接至关重要。Chroma 独特的高压接触检查功能（High Voltage Contact Check: HVCC）采用开尔文（Kelvin）测试方法，针对高绝缘能力的元件，在高压输出的同时同步进行接触检查，提升测试有效性与生产效率。
当固体绝缘物中存在气隙或绝缘层内混合杂质时，在额定工作高压状态下，由于气隙处电场强度较高，会产生局部放电（Partial Discharge）。持续性的局部放电会长期劣化周围绝缘材料，影响电气产品的长期可靠性，进而引发安全事故。
应用于电源系统的安规元件（如光耦合器），若元件长期发生局部放电，会破坏绝缘材料，导致绝缘失效，进而引发用户人身安全问题。因此，IEC60747-5-5 标准中规定，在生产过程中（例行测试）必须 * 执行局部放电（Partial Discharge）检测，在*大绝缘电压条件下，放电量不得超过 5pC，以确保产品在正常工作环境中不会发生局部放电现象。
局部放电测试仪主要针对高压光耦合器、高压继电器及高压开关等高绝缘耐受能力的元件，提供高压耐压测试与局部放电检测，保障产品质量并提升产品可靠性。

19501-K 局部放电测试仪特点
单机内置交流耐压测试与局部放电检测功能
可编程交流耐压输出：0.1kVac~10kVac
高精度及高分辨率电流表：0.01µA~300µA
局部放电（PD）检测范围：1pC~2000pC
高压接触检查功能（HVCC）
符合 IEC60747-5-5、VDE0884、IEC60270 标准测试要求
内置 IEC60747-5-5 测试方法
测量与显示单元分离式设计
三段电压测试功能
局部放电（PD）测量结果数值显示（pC）
局部放电（PD）不良发生次数判定设定（1~10）
多语言操作界面（繁体中文 / 简体中文 / 英文）
USB 画面抓取功能
图形化辅助编辑功能
标准 LAN、USB、RS232 远程控制接口

局部放电（Partial Discharge）释义
局部放电指在绝缘物体的局部区域发生放电，且未在两电极间形成固定放电通道的放电现象。
局部放电测试仪向待测物施加特定条件的电压，测量其视在放电电荷量（PD），既验证待测物承受瞬间高压（耐压测试）的能力，也验证其在额定工作电压下的绝缘完整性。局部放电测试能够检测待测物是否存在异常气隙，通过施加略高于元件*高额定工作电压的局部放电电荷测试，检验电气元件在正常工作电压条件下的长期可靠性。但在实际生产中，绝缘材料内部不可能完全不存在气隙，因此 IEC60747-5-5 光耦合器标准针对局部放电测试，规定其放电电荷量不得大于（qₚₒₗ=5pC）。
绝缘固体中因气泡产生局部放电的说明
空气的介电系数低于绝缘材料的介电系数，因此气泡处的电场强度会大于正常绝缘时的分压。
空气可承受的电场强度低于绝缘材料，容易在气泡处产生气泡放电（Void Discharge）。
其中，Ca 为绝缘介质其余部分的等效电容；Cc 为气隙等效电容；Cb 为绝缘介质与气隙串联部分的等效电容。

局部放电测试仪校正
局部放电测试设备用于测量和判定微小放电量，其信号极其微弱且快速，因此局部放电测量设备必须经过*校正，才能确保局部放电发生时，高频放电信号能够被准确测量。校正器上使用的标准电容 C₀通常为低压电容器，执行局部放电（PD）校正时，局部放电测试仪需在不带电状态下进行，针对局部放电（PD）放电量 q₀=V₀C₀（如图所示）。
图中各参数说明：U 为工作电压；Z 为隔离阻抗容量；Ca 为待测物；Ck 为耦合电容；Zm 为测量系统的输入阻抗；CD 为耦合装置；Cc 为测试线；MI 为局部放电测试测量装置；PG 为直角波产生器；V₀为直角波电压。

高精度测量
Chroma 19501-K 具备高精度的局部放电测量功能，设有两个测量档位，分别为 200pC 和 2000pC 档位，测量范围为 1pC~2000pC。在 200pC 档位下，*佳分辨率为 0.1pC。高精度的测量能力及直观的测量结果显示，有助于对高绝缘物体进行微小放电量的判定与分析。

抗干扰结构设计
局部放电测试仪配备窄频域滤波器，用于测量被测元器件的微小放电量。然而，测试仪器在工厂环境中的使用与实验室环境不同，工厂环境中的干扰因素相对较多，可能包括现场自动化机械运转、马达启动或其他高频辐射干扰。因此，在生产线上使用时，环境噪声干扰会增加，进而影响局部放电（PD）的测量与判定。如何降低并避免局部放电设备的测量回路受到高频辐射干扰，是生产业者与自动化设备商面临的一大难题。
局部放电发生时，放电反应速度极快（通常为纳秒级），属于高频放电且信号极其微弱，因此容易受到周围高频辐射干扰，导致测量误差，增加测量系统的不确定因素。如何在*测量局部放电（PD）放电量的同时，避免受到这些高频辐射干扰，是局部放电仪器设计技术中的一大挑战。
Chroma 19501-K 局部放电测试仪充分考虑到设备使用环境中可能存在的不可避免的高频辐射干扰，因此在产品设计架构上采用测量与显示单元分离式设计，将测量模块外移，以*接近待测物的方式进行测量，减少因测试线过长而容易受到周围环境高频辐射干扰的情况。同时，在测量线路设计上采用信号隔离方式，测试端以*短回路方式使用探针出线，并在低压回路端采用铜环隔离环境辐射干扰，避免局部放电（PD）测量回路受到外部噪声干扰，确保测量精度。

产品应用
光耦合器标准应用
IEC60747-5-5 标准中，已明确规定光耦合器相关的电气安全要求、安全试验及测试方法等内容，为光耦合器元件提供了安全应用的指导性准则。Chroma 19501-K 局部放电测试仪符合该标准对电气安全测试的要求及测试方法。标准中规定，光耦合器在生产过程中必须 * 执行局部放电测试（Partial Discharge Test），并明确了局部放电测试电压要求，供生产业者参考。生产测试时，局部放电测试电压定义为：以 1.875 倍常数乘以标称的*高绝缘工作电压或重复发生的*大绝缘峰值电压（取两者中的较高值），作为局部放电测试电压，其电压计算公式参考如下：
Vₚd = F×Vᵢₒwm（若 Vᵢₒwm>Vᵢₒᵣₘ）
其中，F 为加严常数（常态测试 F=1.875；样品测试 F=1.6；耐久性后测试 F=1.2）；Vᵢₒwm 为*高绝缘工作电压；Vᵢₒᵣₘ为重复发生的*大绝缘峰值电压。

符合 IEC 60747-5-5 与 VDE 0884 标准测试
Chroma 19501-K 产品针对光耦合器产业应用，内置 IEC60747-5-5 标准中要求的测试方法（b1）、方法（b2）与方法（b3）等三个测试模式，并以图形显示辅助用户进行程序编辑设定，帮助用户快速学习并便捷操作仪器，提升操作人员的使用效率。

三段电压测试
除满足光耦合器标准测试要求外，针对部分生产厂商在生产工艺中需要额外以高于标准的测试电压执行绝缘耐压测试并加入局部放电（PD）放电量检测，以提升元件质量及工厂内部加严品质管控的需求，Chroma 19501-K 独特的三段电压测试功能，新增第三阶段品质管控测试电压，可同时满足标准要求与生产质量管控的目的。（注：加严检测后，生产业者仍需将测试电压降至标准规范的测试电压（Vₚd）再执行检测，确保产品符合标准要求。）

局部放电（PD）不良发生次数判定设定
局部放电测试仪在元件绝缘品质检测中，必须能够*测量到元件的微小放电量。当局部放电（PD）发生时，其信号极其微弱，且容易受到环境中高频辐射干扰而造成测量偏差。因此，为降低生产过程中因外部干扰而产生的误判行为，Chroma 19501-K 局部放电测试仪允许用户设定局部放电（PD）不良发生次数的判定条件，确保局部放电测试仪测量到的放电量来自待测物，而非受到周围环境的一次性干扰。
当局部放电测试仪向固体绝缘施加高压时，绝缘固体中的空隙放电量会随着电压变化而发生周期性放电，因此放电量相较于环境中的高频噪声是相对稳定且持续发生的。故 19501-K 设计为：放电量必须累计在连续 4 个电压半波周期内至少发生一次，且超过*大放电量，才会计数一次；若判定次数未连续发生，则局部放电（PD）不良发生次数判定将归零并重新计数，直至连续发生次数超过用户设定的次数，测试结果才判定为不良。

条件成立：在每个电压半波周期均发生局部放电（PD）放电；或在连续 4 个半波周期内发生第二次局部放电（PD）放电（*大放电量≤5pC）。
条件不成立：在连续 4 个半波周期内未发生第二次局部放电（PD）放电（*大放电量≤5pC）。

高压接触检查功能（HVCC）
针对高绝缘能力的元件，在高压输出时进行接触检查至关重要。Chroma 独特的高压接触检查功能（High Voltage Contact Check: HVCC）采用开尔文（Kelvin）测试方法，针对高绝缘能力的元件，在高压输出的同时同步进行接触检查，以提升测试可靠性与生产效率。

订购信息

19501-K：局部放电测试仪
A195001：局部放电（PD）校正器
B195000：电磁遮蔽罩
B195001：高压连接转接座
B195002：DIP 测试治具